手持式四探針測(cè)試儀型號(hào)：M-3

? 運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量儀器。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。

產(chǎn)品型號(hào)：TH2661

更新時(shí)間：2024-02-11

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手持式四探針測(cè)試儀 型號(hào)：M-3

手持式四探針測(cè)試儀

運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量儀器。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。
儀器成套組成：由M-3主機(jī)、選配的四探針探頭等二部分組成，也可加配測(cè)試臺(tái)。
儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用輕觸按鍵輸入；具有零位、滿度自校功能；手動(dòng)/自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程可選；測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測(cè)試儀采用可充電電池供電，適合手持式變動(dòng)場(chǎng)合操作使用！
探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測(cè)試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測(cè)柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測(cè)試夾具，還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進(jìn)行測(cè)量。配**用探頭，也可測(cè)試電池片等箔上涂層電阻率方阻。
詳見《四探針探頭特點(diǎn)與選型參考》點(diǎn)擊進(jìn)入
儀器具有測(cè)量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡(jiǎn)便等特點(diǎn)。
儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、器件廠、科研單位、高等院校對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的手持式導(dǎo)電性能的測(cè)試。

4) 適配器工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或電池供電

5) 外形尺寸：W×H×L=10cm×3.6cm×21cm

凈重：≤0.3kg

三、基本技術(shù)參數(shù)
1. 測(cè)量范圍、分辨率

量程（Ω-cm/□）	2.000	20.00	200.0	2.000k	20.00k
電阻測(cè)試范圍	0.010～2.200	2.000～22.00	20.00～220.0	0.200～2.200k	2.000～50.00k
電阻率/方阻	0.010/0.050～2.200	2.000～22.00	20.00～220.0	0.200～2.200k	2.000～20.00k/100.0k
基本誤差	±1%FSB±2LSB			±2%FSB±2LSB

電    阻：     0.010Ω ～ 50.00kΩ,     分辨率0.001Ω ～ 10 Ω
電阻率：     0.010Ω-cm～ 20.00kΩ-cm，分辨率0.001Ω ～ 10 Ω-cm
方塊電阻：     0.050Ω/□ ～ 100.00kΩ/□   分辨率0.001Ω ～ 10 Ω/□
2. 可測(cè)材料尺寸
手持方式不限材料尺寸，但加配測(cè)試臺(tái)則由選配測(cè)試臺(tái)決定如下：
直    徑：SZT-A圓測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15～130mm。停產(chǎn)
SZT-C方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180mm×180mm。
長(高)度：測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤100mm。.
測(cè)量方位: 軸向、徑向均可.
3. 量程劃分及誤差等級(jí)

上一個(gè)：KJ-18烤膠機(jī) 烘膠臺(tái)